タイトル：On test generation with a Limited Number of Tests
著者: Hideyuki Ichihara, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita
雑誌名：Proc. Ninth Great Lakes Symposium on VLSI
ページ: 12-15
発行月: 3
発行年: 1999
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：On test generation with a Limited Number of Tests
著者: Hideyuki Ichihara, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita
雑誌名：Proc. Ninth Great Lakes Symposium on VLSI
ページ: 12-15
発行月: 3
発行年: 1999
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
