タイトル：Test Transformation to improve Compaction by Statistical Encoding
著者: Hideyuki Ichihara, Kozo Kinoshita, Irith Pomeranz, S. M. Reddy
雑誌名：The VLSI Design 2000 Conference
ページ: 294-299
発行月: 1
発行年: 2000
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：Test Transformation to improve Compaction by Statistical Encoding
著者: Hideyuki Ichihara, Kozo Kinoshita, Irith Pomeranz, S. M. Reddy
雑誌名：The VLSI Design 2000 Conference
ページ: 294-299
発行月: 1
発行年: 2000
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
