タイトル:単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成

著者: 市原英行, 井上智生, 田村秋雄

雑誌名:信学技報FTS2000-68

Volume: 100

Number: 473

ページ: 203-208

発行月: 11

発行年: 2000

タイプ: techreport

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