タイトル：Optimal granularity of test generation in a distributed system
著者: Hideo Fujiwara, Tomoo Inoue
雑誌名：IEEE Trans. on Computer-Aided Design
Number: 8
ページ: 885-892
発行月: 8
発行年: 1990
タイプ: article
アブストラクト: NULL
タイトル：Optimal granularity of test generation in a distributed system
著者: Hideo Fujiwara, Tomoo Inoue
雑誌名：IEEE Trans. on Computer-Aided Design
Number: 8
ページ: 885-892
発行月: 8
発行年: 1990
タイプ: article
アブストラクト: NULL
