タイトル:Optimal granularity and scheme of parallel test generation in a distributed system
著者: Hideo Fujiwara, Tomoo Inoue
雑誌名:IEEE Trans. on Parallel and Distributed Systems
Volume: 6
Number: 7
ページ: 677-686
発行月: 7
発行年: 1995
タイプ: article
アブストラクト: NULL
タイトル:Optimal granularity and scheme of parallel test generation in a distributed system
著者: Hideo Fujiwara, Tomoo Inoue
雑誌名:IEEE Trans. on Parallel and Distributed Systems
Volume: 6
Number: 7
ページ: 677-686
発行月: 7
発行年: 1995
タイプ: article
アブストラクト: NULL