タイトル:Optimal granularity and scheme of parallel test generation in a distributed system

著者: Hideo Fujiwara, Tomoo Inoue

雑誌名:IEEE Trans. on Parallel and Distributed Systems

Volume: 6

Number: 7

ページ: 677-686

発行月: 7

発行年: 1995

タイプ: article

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