タイトル：Testing for the programming circuit of SRAM-based FPGAs
著者: Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, T. Okamoto, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Trans. Inf. & Syst.
Volume: E82-D
Number: 6
ページ: 1051-1057
発行月: 6
発行年: 1999
タイプ: article
アブストラクト: NULL
