タイトル:無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
著者: 高崎智也, 井上智生, 藤原秀雄
雑誌名:電子情報通信学会論文誌 (DI)
Volume: J83-D-I
Number: 2
ページ: 282-292
発行月: 2
発行年: 2000
タイプ: article
アブストラクト: NULL
タイトル:無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
著者: 高崎智也, 井上智生, 藤原秀雄
雑誌名:電子情報通信学会論文誌 (DI)
Volume: J83-D-I
Number: 2
ページ: 282-292
発行月: 2
発行年: 2000
タイプ: article
アブストラクト: NULL