タイトル:無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法

著者: 高崎智也, 井上智生, 藤原秀雄

雑誌名:電子情報通信学会論文誌 (DI)

Volume: J83-D-I

Number: 2

ページ: 282-292

発行月: 2

発行年: 2000

タイプ: article

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