タイトル：An optimal scheme of parallel processing for test generation in a distributed system
著者: Tomoo Inoue, Tomoki Yonezawa, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. 2nd IEEE Asian Test Symposium
ページ: 8-13
発行月: 11
発行年: 1993
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：An optimal scheme of parallel processing for test generation in a distributed system
著者: Tomoo Inoue, Tomoki Yonezawa, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. 2nd IEEE Asian Test Symposium
ページ: 8-13
発行月: 11
発行年: 1993
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
