タイトル：Universal test complexity of field-programmable gate arrays
著者: Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara, Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, T. Okamoto
雑誌名：Proc. fourth IEEE Asian Test Symposium
ページ: 259-265
発行月: 11
発行年: 1995
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
