ディペンダブル・コンピューティング研究グループ

タイトル：A test methodology for interconnect structures of LUT-based FPGAs

著者: Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, T. Okamoto, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara

雑誌名：Proc. Fifth IEEE Asian Test symposium