タイトル：Testing for the programming circuit of LUT-based FPGAs
著者: Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, T. Okamoto, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. Sixth IEEE Asian Test Symp.
ページ: 242-247
発行月: 11
発行年: 1997
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：Testing for the programming circuit of LUT-based FPGAs
著者: Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, T. Okamoto, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. Sixth IEEE Asian Test Symp.
ページ: 242-247
発行月: 11
発行年: 1997
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
