タイトル：Sequential test generation based on circuit pseudo-transformation
著者: Shinnosuke Oharu, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. Sixth IEEE Asian Test Symp.
発行月: 11
発行年: 1997
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：Sequential test generation based on circuit pseudo-transformation
著者: Shinnosuke Oharu, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. Sixth IEEE Asian Test Symp.
発行月: 11
発行年: 1997
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
