タイトル:An optimal time expansion model based on combinational ATPG for RT level circuits

著者: Tomoo Inoue, Toshinori Hosokawa, Takahiro Mihara, Hideo Fujiwara

雑誌名:Proc. IEEE the 7th Asian Test Symp.

ページ: 190-197

発行月: 12

発行年: 1998

タイプ: inproceedings