タイトル：Static and dynamic test sequence compaction methods for acyclic sequential circuits using a time exp
著者: Toshinori Hosokawa, Tomoo Inoue, Toshihiro Hiraoka, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. 8th IEEE Asian Test Symp.
ページ: 192-199
発行月: 11
発行年: 1999
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
