タイトル：Test generation for acyclic sequential circuits with hold registers
著者: Tomoo Inoue, D. K. Das, Chiiho Sano, Takahiro Mihara, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. International Conf. on Computer Aided Design
ページ: 550-556
発行月: 11
発行年: 2000
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
