タイトル:Test generation for acyclic sequential circuits with hold registers

著者: Tomoo Inoue, D. K. Das, Chiiho Sano, Takahiro Mihara, Hideo Fujiwara

雑誌名:Proc. International Conf. on Computer Aided Design

ページ: 550-556

発行月: 11

発行年: 2000

タイプ: inproceedings

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