タイトル:状態並列に基づく順序回路テスト生成の並列処理について

著者: 山崎浩司, 井上智生, 藤原秀雄

雑誌名: 信学技報 (FTS96-69)

ページ: 89-96

発行月: 2

発行年: 1997

タイプ: techreport

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