タイトル：A Method of Test Generation for Acyclic Sequential Circuits Using Single Stuck-at Fault Combinational ATPG
著者: Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
雑誌名：IEICE Trans. Fundamentals
Volume: E86-A
Number: 12
ページ: 3072-3078
発行月: 12
発行年: 2003
タイプ: article
アブストラクト: NULL
