タイトル：Channel Width Test Data Compression under a Limited Number of Test Inputs and Outputs
著者: Hideyuki Ichihara, Kozo Kinoshita, Kohji Isodono, Shigeki Nishikawa
雑誌名：Proc. the 16th International Conference on VLSI Design
ページ: 329-334
発行月: 1
発行年: 2003
タイプ: inproceedings
