タイトル:強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について

著者: 岡本直己, 市原英行, 井上智生, 細川利典, 藤原秀雄

雑誌名:電子情報通信学会技術研究報告

Volume: 103

Number: 476

ページ: 13-18

発行月: 11

発行年: 2003

タイプ: techreport

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