タイトル:強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について
著者: 岡本直己, 市原英行, 井上智生, 細川利典, 藤原秀雄
雑誌名:電子情報通信学会技術研究報告
Volume: 103
Number: 476
ページ: 13-18
発行月: 11
発行年: 2003
タイプ: techreport
アブストラクト: NULL
タイトル:強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について
著者: 岡本直己, 市原英行, 井上智生, 細川利典, 藤原秀雄
雑誌名:電子情報通信学会技術研究報告
Volume: 103
Number: 476
ページ: 13-18
発行月: 11
発行年: 2003
タイプ: techreport
アブストラクト: NULL