タイトル：Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Single Stuck-at Fault Combinational ATPG
著者: Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
雑誌名：Proc. DATE03
ページ: 1180-1181
発行月: 3
発行年: 2003
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Single Stuck-at Fault Combinational ATPG
著者: Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue
雑誌名：Proc. DATE03
ページ: 1180-1181
発行月: 3
発行年: 2003
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
