タイトル:論理回路に対するテストコスト削減法 -テストデータ量および実行時間の削減-

著者: 樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三

雑誌名:電子情報通信学会論文誌 D-I

Volume: J87-D-I

Number: 3

ページ: 291-307

発行月: 3

発行年: 2004

タイプ: article

アブストラクト: NULL

外部リンク: http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/handle/harp/4751