タイトル:論理回路に対するテストコスト削減法 -テストデータ量および実行時間の削減-
著者: 樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三
雑誌名:電子情報通信学会論文誌 D-I
Volume: J87-D-I
Number: 3
ページ: 291-307
発行月: 3
発行年: 2004
タイプ: article
アブストラクト: NULL
タイトル:論理回路に対するテストコスト削減法 -テストデータ量および実行時間の削減-
著者: 樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三
雑誌名:電子情報通信学会論文誌 D-I
Volume: J87-D-I
Number: 3
ページ: 291-307
発行月: 3
発行年: 2004
タイプ: article
アブストラクト: NULL