ディペンダブル・コンピューティング研究グループ

タイトル：LSIのRTレベルにおけるテスト容易化設計技術

著者: 細川利典, 井上智生

雑誌名：電子情報通信学会情報・システムソサイエティ誌

Volume: 8

Number: 4

ページ: 6-8

発行月: 2

発行年: 2004

タイプ: survey

アブストラクト: NULL