タイトル:A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding

著者: Hideyuki Ichihara, Masakuni Ochi, Michihiro Shintani, Tomoo Inoue

雑誌名:IEEE Proc. Asian Test Symp.

ページ: 426-431

発行月: 11

発行年: 2004

タイプ: inproceedings

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