タイトル：An Improvement of a Test Plan Generation Algorithm for Hierarchical Test Based on Strong Testability
著者: Tomoo Inoue, Naoki Okamoto, Hideyuki Ichihara, Toshinori Hosokawa, Hideo Fujiwara
雑誌名：Workshop on RTL and High Level Testing
ページ: 37-42
発行月: 11
発行年: 2003
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
