タイトル:A Test Compression Algorithm for Reducing Test Application Time

著者: Michihiro Shintani, Toshimasa Ohara, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue

雑誌名:5th Workshop on RTL and High Level Testing

ページ: 53-58

発行月: 11

発行年: 2004

タイプ: inproceedings

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