タイトル：Max-Testable Class of Sequential Circuits having Combinational Test Generation Complexity
著者: D. K. Das, Tomoo Inoue, S. Chakraborty, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEEE Proc. Asian Test Symp.
ページ: 342-347
発行月: 11
発行年: 2004
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：Max-Testable Class of Sequential Circuits having Combinational Test Generation Complexity
著者: D. K. Das, Tomoo Inoue, S. Chakraborty, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEEE Proc. Asian Test Symp.
ページ: 342-347
発行月: 11
発行年: 2004
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
