タイトル：Test generation and design-for-testability based on acyclic structure with hold registers
著者: Tomoo Inoue, D. K. Das, Chiiho Sano, Takahiro Mihara, Hideo Fujiwara
雑誌名：1st Workshop on RTL ATPG and DFT
発行月: 9
発行年: 2000
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
