タイトル：A partial scan design with orthogonal scan paths
著者: Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：3rd Workshop on RTL and High Level Testing
発行月: 11
発行年: 2002
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
タイトル：A partial scan design with orthogonal scan paths
著者: Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：3rd Workshop on RTL and High Level Testing
発行月: 11
発行年: 2002
タイプ: inproceedings
アブストラクト: NULL
