タイトル：TAM Design and Optimization for Transparency-based SoC Test
著者: Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. VLSI Test Symp.
ページ: 381-386
発行月: 5
発行年: 2007
タイプ: inproceedings
タイトル：TAM Design and Optimization for Transparency-based SoC Test
著者: Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. VLSI Test Symp.
ページ: 381-386
発行月: 5
発行年: 2007
タイプ: inproceedings
