タイトル:A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors with Test Frames

著者: Tomoo Inoue, Takashi Fujii, Hideyuki Ichihara

雑誌名:IEICE Trans. Inf. & Syst.

Volume: E91

Number: 3

ページ: 756-762

発行月: 3

発行年: 2008

タイプ: article

リファレンス: http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/handle/harp/6025