タイトル：Test Generation and DFT Based on Partial Thru Testability
著者: Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. European Test Symposium (CD-ROM)
発行月: 5
発行年: 2009
タイプ: inproceedings
タイトル：Test Generation and DFT Based on Partial Thru Testability
著者: Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. European Test Symposium (CD-ROM)
発行月: 5
発行年: 2009
タイプ: inproceedings
