タイトル：組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について
著者: 深澤祐樹, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
雑誌名：信学技法
Volume: 109
Number: 11
ページ: 37-42
発行月: 4
発行年: 2009
タイプ: techreport
アブストラクト: 組込み自己テスト(BIST)手法において，テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適切に行えない可能性があり，歩留まりの低下や，市場不良の影響が懸念される．本研究では，BIST回路の同時テスト可能性（BIST回路を用いた被テスト回路(CUT)のテスト時にBIST回路も同時にテスト可能であること）に着目し，同時テスト可能な応答圧縮器である符号化応答圧縮器を提案する．さらに反復符号と巡回符号を用いた符号化応答圧縮器の設計手順とその能力を示す．実験では符号化応答圧縮器の同時テスト可能性と面積オーバヘッドの関係を明らかにする．
