タイトル：A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic
著者: Tomoo Inoue, Nobukazu Izumi, Yuki Yoshikawa, Hideyuki Ichihara
雑誌名：IEEE Proc. DELTA
ページ: 345-349
発行月: 1
発行年: 2010
タイプ: inproceedings
タイトル：A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic
著者: Tomoo Inoue, Nobukazu Izumi, Yuki Yoshikawa, Hideyuki Ichihara
雑誌名：IEEE Proc. DELTA
ページ: 345-349
発行月: 1
発行年: 2010
タイプ: inproceedings
