ディペンダブル・コンピューティング研究グループ

タイトル：A Yield Model of Design for Testability and Repairability

著者: Hideyuki Ichihara, Yujiro Amano, Yuki Yoshikawa, Tomoo Inoue

雑誌名：IEEE Proc. RASDAT

ページ: 23-28

発行月: 1

発行年: 2010

タイプ: inproceedings