タイトル：Design and Optimization of Transparency-Based TAM for SoC Test
著者: Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Trans. Inf. & Syst.
Volume: E93-D
Number: 6
ページ: 1549-1559
発行月: 6
発行年: 2010
タイプ: article
タイトル：Design and Optimization of Transparency-Based TAM for SoC Test
著者: Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Trans. Inf. & Syst.
Volume: E93-D
Number: 6
ページ: 1549-1559
発行月: 6
発行年: 2010
タイプ: article
