タイトル：Flexible test scheduling for an asynchronous on-chip interconnect through special data transfer
著者: Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda, Mineo Kaneko
雑誌名：IEICE Trans. on Fundamentals
Volume: E94-A
Number: 12
ページ: 2563-2570
発行月: 12
発行年: 2011
タイプ: article
