タイトル：A low power deterministic test using scan chain disable technique
著者: Zhiqiang You, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Trans. Inf. & Syst.
Volume: E89-D
Number: 6
ページ: 1931-1939
発行月: 6
発行年: 2006
タイプ: article
タイトル：A low power deterministic test using scan chain disable technique
著者: Zhiqiang You, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Trans. Inf. & Syst.
Volume: E89-D
Number: 6
ページ: 1931-1939
発行月: 6
発行年: 2006
タイプ: article
