タイトル：Power-constrained test generation for hold-time faults using integer linear programming
著者: Tsuyoshi Iwagaki, Kewal K. Saluja
雑誌名：Proc. 4th IEEE International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability (LPonTR '11)
ページ: 1-2
発行月: 5
発行年: 2011
タイプ: inproceedings
