タイトル：A pseudo-boolean technique for generating compact transition tests with all-output-propagation properties
著者: Tsuyoshi Iwagaki, Mineo Kaneko
雑誌名：Proc. IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (DELTA '10)
ページ: 293-296
発行月: 1
発行年: 2010
タイプ: inproceedings
