ディペンダブル・コンピューティング研究グループ

タイトル：Generation of power-constrained scan tests and its difficulty

著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake

雑誌名：Proc. IEEE International Design and Test Workshop (IDT '07)

ページ: 71-76

発行月: 12

発行年: 2007

タイプ: inproceedings