タイトル：Efficient constraint extraction for template-based processor self-test generation
著者: Kazuko Kambe, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. 14th IEEE Asian Test Symposium (ATS '05)
ページ: 444-447
発行月: 12
発行年: 2005
タイプ: inproceedings
リファレンス: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=1575470
