タイトル：A low power deterministic test using scan chain disable technique
著者: Zhiqiang You, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Digest of Papers 6th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '05)
ページ: 184-191
発行月: 7
発行年: 2005
タイプ: inproceedings
