タイトル：Acceleration of transition test generation for acyclic sequential circuits utilizing constrained combinational stuck-at test generation
著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara
雑誌名：Proc. 10th IEEE European Test Symposium (ETS '05)
ページ: 48-53
発行月: 5
発行年: 2005
タイプ: inproceedings
リファレンス: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=1430008
