タイトル：C 素子展開に基づく 2 線 2 相式回路のテスト生成法 著者: 竹ヶ原正晃, 岩垣剛, 金子峰雄 雑誌名：電子情報通信学会 DC 研究会 (口頭発表のみ) 発行月: 2 発行年: 2008 タイプ: techreport
