ディペンダブル・コンピューティング研究グループ

タイトル：An approach to power-constrained test generation for scan circuits

著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake

雑誌名：IEICE Technical Report (FIIS-07-218)

ページ: 1-6

発行月: 10

発行年: 2007

タイプ: techreport