ディペンダブル・コンピューティング研究グループ

タイトル：Analysis of fault coverage under a power budget in scan testing

著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake

雑誌名：Proc. IEICE Society Conference

ページ: 53

発行月: 9

発行年: 2007

タイプ: techreport