タイトル：組込み自己テストにおける巡回符号を用いた同時テスト可能な応答圧縮器
著者: 深澤祐樹, 市原英行, 井上智生
雑誌名：電子情報通信学会論文誌D
Volume: J95-D
Number: 3
ページ: 496-505
発行月: 3
発行年: 2012
タイプ: article
アブストラクト: 組込み自己テストでは，テスト生成器や応答圧縮器などからなるBIST回路が故障すると被テスト回路(CUT)のテスト実行結果の判定を誤る可能性があり，歩留りの低下や市場不良の原因となる．本論文では，CUTのテスト実行と同時にBIST回路自身のテストも実行できる性質（同時テスト可能性）をもつ応答圧縮器を提案する．提案する同時テスト可能な応答圧縮器は，巡回符号を用いた符号化応答圧縮器であり，得られたシグネチャからCUTまたは応答圧縮器の故障かを判定可能であり，提案したアーキテクチャが原因でCUTの故障の影響を見逃すことはない．更に，提案した符号化応答圧縮器の能力を議論するため，シグネチャから応答圧縮器の故障を判別する可能性を示す自己判別率を提案し，この値がシグネチャの観測回数と巡回符号の冗長ビットの大きさに依存して決まることを示す．ベンチマーク回路に対する実験結果は，自己判別率，符号化応答圧縮器の面積，そしてシグネチャの観測回数の関係を示しており，その結果から，自己判別率の議論が妥当であること，面積やシグネチャの観測回数の制約に対する最適な応答圧縮器の設計が可能であることが分かる．
リファレンス: http://search.ieice.org/bin/summary.php?id=j95-d_3_496&category=D&year=2012&lang=J&abst
