タイトル:高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察

著者: 深澤祐樹, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生

雑誌名:信学技報

Volume: 112

Number: 102

ページ: 15-20

発行月: 6

発行年: 2012

タイプ: techreport