DC研究会が12月14日に福井で行われました．
コンピュータデザイン研究室からは，
櫻田さんが”LSIの過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用”
という題目で発表しました．
本当にお疲れ様でした．

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