こんにちは，M2の湯浅です．

10月15日から19日まで中国の合肥で行われたAsian Test Symposium(ATS)とWorkshop on RTL and High Level Testing(WRTLT)に参加しました．

発表タイトルは「Effective Utilization of Register-Transfer Paths Based on Enhancing Multiplexer Functions in RTL Scan Design」です．

研究内容を簡単に紹介すると，製造されたLSIは必ずテストが行われますが実用的な回路の多くはこの「テスト」が難しいのでテスト容易化設計(DFT)という手法が使われます．

僕は代表的なDFTの一つであるスキャン設計に付随する面積コストを減らす研究を行なっています．

提案手法は元々存在する経路をテスト時にも使用してかつマルチプレクサ（多数の入力信号線から一つの信号線を選択するもの）の機能を拡張して面積コストを下げるというものです．

僕の発表は19日のWRTLTでほぼ最後の発表でした．

発表は緊張しましたが練習時よりはうまくできたのではないかと思います．

初めての発表で準備不足が目立ちもう少し計画通りに行けたらと思うこともあり，この経験から次はもっとうまくという思いも強まりました．

以下は発表後のお食事の風景です．

どれも美味しかったです．

今回の研究発表を通して，ご指摘をしてくださった井上先生，市原先生，岩垣先生ありがとうございました．特に中国に着いてからも様々なことを教えてくださった井上先生には本当に感謝します．

最後は学会で仲良くなった他大学の学生さんです．